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      • NanoSystem NSM-5060P非接觸式3D表面測量系統

        NanoSystem NSM系列非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性,支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。

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        產品價格:面議
        廠商性質:代理商
        更新日期:2022-03-12
      • NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統

        NanoSystem NVM-6000P非接觸式3D表面測量系統用于PCB基板表面形貌的測量。 基板上的Via Hole,Pad形狀,pattern形貌和表面形貌等11個項目可以進行自動測量。 在高速測量下仍具有優秀的重復性和準確性,支持用戶設定測量條件和測量數據自動保存及分析功能。

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        廠商性質:代理商
        更新日期:2021-12-03
      • Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀

        Nanosystem NVF-2700 非接觸式3D輪廓儀,通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

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        更新日期:2020-11-10
      • NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀

        NanoSystem NV-3200非接觸式3D光學輪廓儀為LCD、IC Package、Substrate、Build-up PCB、MEMS,Engineering Surfaces等領域提供納米級別精度的測量.

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        更新日期:2020-11-10
      • Nanosystem NV-2700 非接觸式3D輪廓儀

        Nanosystem NV-2700 非接觸式3D輪廓儀,通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

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        更新日期:2020-11-10
      • Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀

        Nanosystem NV-2400非接觸式3D輪廓儀通過非接觸式的方法對0.1nm-270nm的3維表面形貌進行高進度和高速測量。利用物鏡轉臺可方便的進行放大倍數的轉換。使用拼接功能可分析寬廣的表面。

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        更新日期:2020-11-10
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